正确答案:

可研究颅面生长发育 可对牙颌、颅面畸形作诊断分析 可确定错畸形的矫治设计 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

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题目：X线头影测量的主要应用有

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